Intensitäts- und Koinzidenzverhalten von Röntgen-Interferenzen bei gepulster Einstrahlung

Abstract

Zusammenfassung: Interferenzexperimente mit schwachen Röntgen -
intensitäten erbrachten für den Fall, daß die Röntgenröhren in einer
Halbwellenschaltung betrieben wurden, einige - in wellentheoretischer
Sicht - auffallende Ergebnisse: a) Abweichungen von der linearen Intensitätsproportionalität
zwischen einfallender und reflektierter Röntgenstrahlung,
b) Nachweis einer - geringfügigen - Rate von systematischen
Koinzidenzen zwischen Reflexen desselben Interferenz-Diagramms,
c) Auftreten von Rückwärtslinien, deren Reflexionswinkel nicht von den
Bragg-Laue-Bedingungen gefordert werden. Die angewandte Versuchsführung,
Intensitäts- und Koinzidenzmessungen bei gepulster Einstrahlung,
erscheint geeignet, Rückschlüsse auf das eigentliche Geschehen
während des Röntgeninterferenzvorganges im Kristall zu ziehen.
S ummary: The coincidence method has been applied to X-ray diffraction
measurements. Scatterer used were single Si crystals (BORRMANN)
and threefold Si crystal arrangements (BONSE-HART), Both,
pulsed radiation (X-ray tube operated at Halbwellenschaltung) and constant
irradiation (Gleichrichterschaltung) were employed. Two counters,
set at various angles of X-ray patterns, allowed to register the single
and the coincidence rates; the rates varied between 1 and 104 counts
per s (separata quanta). Film technique was used, too: - Some remarkable
effects were observed, but only in case of pulsed X-ray incidence: a) Refutation of the linear proportionality between the incident and the reflected intensities, b) existence of a small rate of systematic coincidences
between coherent and incoherent beams, c) appearence of back
reflections, non attached to an adequat net plan ensemble ("antibragg"
reflection). - Such investigations lad hope to receive more detailled
conclusions concerning the intrinsic interference process of X-rays in
crystals.